比表面及孔径分析仪

   比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK200系列高性能物理吸附仪既准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题，可有效解决分子筛、催化剂、活性炭等多微孔样品的高效率超微孔分析。检测范围大，孔径范围:  0.35nm-500nm;         比表面范围: 0.0001m2/g-无上限；中值孔径重复性≤0.02nm，          比表面重复性（相对标准偏差）≤±1%。